空間分辨率測試卡
銷售產(chǎn)品編號：202211
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空間分辨率測試卡
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態(tài)檢測:在運(yùn)行中的設(shè)備，為評價其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。穩(wěn)定性檢測:為確定X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對于一個初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。周期對系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測，尤其是對那些依賴定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對可能出現(xiàn)的問題進(jìn)行及時預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率測試卡
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態(tài)檢測:在運(yùn)行中的設(shè)備，為評價其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。穩(wěn)定性檢測:為確定X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對于一個初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。周期對系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測，尤其是對那些依賴定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對可能出現(xiàn)的問題進(jìn)行及時預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率測試卡
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態(tài)檢測:在運(yùn)行中的設(shè)備，為評價其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。穩(wěn)定性檢測:為確定X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對于一個初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。周期對系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測，尤其是對那些依賴定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對可能出現(xiàn)的問題進(jìn)行及時預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷售產(chǎn)品編號：20221122-08
產(chǎn)品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
