20線對(duì)測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211202-09
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20線對(duì)測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211202-09
銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
X線的特性： X線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波。波長(zhǎng)范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長(zhǎng)范圍為0.008～0.031nm(相當(dāng)于40～150kV時(shí))。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見(jiàn)光的波長(zhǎng)要短得多，肉眼看不見(jiàn)。
線組測(cè)試已證明自己在確定的視覺(jué)分辨率值。根據(jù)被證明的系統(tǒng)，這些測(cè)試是 cbtalnable 在不同的空間頻率范圍和在不同步驟。對(duì)于增感屏的測(cè)試，線組只按一個(gè)方向排列的測(cè)試是足夠的:由于測(cè)試是在盒式磁帶上直接進(jìn)行的，所以不期望在各個(gè)方向上的系統(tǒng)誤差，幾何的方向相關(guān)誤差不產(chǎn)生影響。
線掃描DR工作原理
由于線陣列 接收到的X射線是一條線,為了獲得完整的DR圖像,就必須使被檢工件與線陣列 之間作相對(duì)運(yùn)動(dòng),將連續(xù)掃描獲得的線信息重新組合成圖像的面信息,從而完成整個(gè)的檢測(cè)過(guò)程。因此,基于線陣列 數(shù)宇成像系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是被檢工件必須在X射線源與線陣列 之間作相對(duì)勻速運(yùn)動(dòng)才能成像。
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
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