Ｘ光分辨率解析卡
產(chǎn)品編號：20211126-08
銷售產(chǎn)家：固安縣雙玉儀器有限公司
分辨率測試卡，JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設(shè)備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個線對的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。
射線吸收材料
射線吸收材料多為重金屬,可以用鉛箔或鎢箔,標準引進了鉛當量的概念,所以就不再提到鎢箔,表述為“射線吸收材料用鉛箔或與鉛當量相當?shù)慕饘俨?。?/span>
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測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
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