產(chǎn)品名稱：畸變測試卡
產(chǎn)品編碼：SY20220107-4
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產(chǎn)品名稱：畸變測試卡
產(chǎn)品編碼：SY20220107-4
畸變是一個(gè)科技名詞，指畸形地變化。畸變是由于垂軸放大率在整個(gè)視場范圍內(nèi)不能保持常數(shù)而引起的。當(dāng)一個(gè)有畸變的光學(xué)系統(tǒng)對(duì)一個(gè)方形的網(wǎng)狀物體(圖2a)成像時(shí),若δy>0，則主光線的交點(diǎn)高度y比理想像高y低,視場越大，低得越多，形成一啤酒桶形狀的圖像(如圖2b),故又稱正畸變?yōu)橥靶位?/span>;若δy<0,則y比理想像高y高，視場越大，高得越多，形成一種枕頭形的圖像(如圖2c)，故負(fù)畸變又稱枕形畸變。
在一般的光學(xué)系統(tǒng)中，只要畸變引起的圖像變形不為人眼所覺察，是可以允許的，這一允許的畸變值約為4%。但是有些需根據(jù)圖像來測定物體尺寸的光學(xué)系統(tǒng)，如航空測量鏡頭等，畸變則直接影響測量精度，必須對(duì)其嚴(yán)加校正，使畸變小到萬分之一甚至十萬分之幾。 一般而言,畸變數(shù)值隨光闌(指孔徑光闌,下同)位置而異。對(duì)于單個(gè)薄透鏡或薄透鏡組，當(dāng)光闌與之重合時(shí)，畸變?yōu)榱恪Ｈ绻鈱W(xué)系統(tǒng)在光闌兩邊的光學(xué)結(jié)構(gòu)互相對(duì)稱,且整個(gè)系統(tǒng)的垂軸放大率β=-1時(shí),互相對(duì)稱的光學(xué)表面對(duì)垂軸像差(彗差、畸變等)有數(shù)值相等而符號(hào)相反的貢獻(xiàn)，故整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的垂軸像差為零。因此對(duì)畸變要求嚴(yán)格的光學(xué)系統(tǒng)往往采取對(duì)稱或近似對(duì)稱的結(jié)構(gòu)形式
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